產(chǎn)品鏈接
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)
全行程測量精度高—± 1 μm
重現(xiàn)性高— 0.05 μm
專為工業(yè)環(huán)境設(shè)計—防護(hù)等級IP64
結(jié)構(gòu)緊湊，安裝方便快捷
多種結(jié)構(gòu)配置可供選擇
堅固的設(shè)計—高的機(jī)械和熱穩(wěn)定性
為多點(diǎn)式測量設(shè)備特別設(shè)計
簡化檢測裝置的構(gòu)造
無需反復(fù)校準(zhǔn)，測量長期穩(wěn)定
球型探頭可承受較大的徑向力且摩擦力很小
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產(chǎn)品規(guī)格
規(guī) 格：NT 12; NT 30
測量范圍：12 mm; 30 mm
分 辨 率：0.05μm; 0.1μm; 0.2μm; 0.5μm; 1.0μm
移動速度：Max: 72m/min
參考點(diǎn)位置：上極限以下 5 ± 0.5mm 處
精度等級：±1 μm
測桿驅(qū)動方式：手 動 / 氣 動
防護(hù)等級：IP 64
輸出信號：1Vpp/11μApp/RS 422
電源電壓：DC 5V±10%
線 長： 標(biāo)準(zhǔn): 1.5m (Max: 30m )
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主要市場
半導(dǎo)體設(shè)備、各種需要高精度、小行程的檢測設(shè)備
應(yīng) 用
直線度檢測、平面度檢測、幾何公差測量、硅晶片的厚度測量、量塊校準(zhǔn)、直線導(dǎo)軌的誤差測量、計量和生產(chǎn)控制、量塊校準(zhǔn)和測量設(shè)備的檢查、多點(diǎn)檢測設(shè)備、位置測量
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