產(chǎn)品鏈接
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)
全行程測(cè)量精度高—± 1 μm
重現(xiàn)性高— 0.05 μm
專為工業(yè)環(huán)境設(shè)計(jì)—防護(hù)等級(jí)IP64
結(jié)構(gòu)緊湊，安裝方便快捷
多種結(jié)構(gòu)配置可供選擇
堅(jiān)固的設(shè)計(jì)—高的機(jī)械和熱穩(wěn)定性
為多點(diǎn)式測(cè)量設(shè)備特別設(shè)計(jì)
簡(jiǎn)化檢測(cè)裝置的構(gòu)造
無(wú)需反復(fù)校準(zhǔn)，測(cè)量長(zhǎng)期穩(wěn)定
球型探頭可承受較大的徑向力且摩擦力很小
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產(chǎn)品規(guī)格
規(guī) 格：NT 12; NT 30
測(cè)量範(fàn)圍：12 mm; 30 mm
分 辨 率：0.05μm; 0.1μm; 0.2μm; 0.5μm; 1.0μm
移動(dòng)速度：Max: 72m/min
參考點(diǎn)位置：上極限以下 5 ± 0.5mm 處
精度等級(jí)：±1 μm
測(cè)桿驅(qū)動(dòng)方式：手 動(dòng) / 氣 動(dòng)
防護(hù)等級(jí)：IP 64
輸出信號(hào)：1Vpp/11μApp/RS 422
電源電壓：DC 5V±10%
線 長(zhǎng)： 標(biāo)準(zhǔn): 1.5m (Max: 30m )
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主要市場(chǎng)
半導(dǎo)體設(shè)備、各種需要高精度、小行程的檢測(cè)設(shè)備
應(yīng) 用
直線度檢測(cè)、平面度檢測(cè)、幾何公差測(cè)量、硅晶片的厚度測(cè)量、量塊校準(zhǔn)、直線導(dǎo)軌的誤差測(cè)量、計(jì)量和生產(chǎn)控制、量塊校準(zhǔn)和測(cè)量設(shè)備的檢查、多點(diǎn)檢測(cè)設(shè)備、位置測(cè)量
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